所有关于 metering 的文章

Selenium、CdS 与硅光电管测光元件比较

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Selenium、CdS 与硅光电管测光元件比较

Selenium、硫化镉与硅光电二极管测光元件在光谱响应、记忆效应和弱光精度上的差异。

圆偏振镜存在的原因:偏振光与通过镜头测光

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圆偏振镜存在的原因:偏振光与通过镜头测光

分光棱镜测光元件和自动对焦传感器为何会误读线偏振光,以及四分之一波片从光学原理到曝光两个层面改变了什么。

Weston Master 表盘:U 与 O 标记如何预示区域放置

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Weston Master 表盘:U 与 O 标记如何预示区域放置

经典 Selenium 手持测光表如何在计算表盘上编码曝光系统,以及 U 与 O 标记为何预示了区域系统的放置理念。

中央重点与矩阵测光模式

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中央重点与矩阵测光模式

相机测光表如何以中央重点和多区域矩阵模式对场景取平均值,各自在哪里失效,以及何时需要曝光补偿。

无测光表曝光的阳光十六法则(Sunny 16)

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无测光表曝光的阳光十六法则(Sunny 16)

阳光十六法则(Sunny 16)如何在没有测光表的情况下估算日光曝光量、针对不同云量和阴影条件的调整方式,以及为何它仍可用于验证测光表读数的合理性。

测量阴影与高光,确定场景的档(stop)数范围

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测量阴影与高光,确定场景的档(stop)数范围

如何通过对最暗与最亮重要区域分别进行点测光,以档(stop)数揭示场景的反差范围,以及它是否适配胶片。

用点测光读取阴影并将其定位于区域 III

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用点测光读取阴影并将其定位于区域 III

如何用点测光读取最暗的重要阴影,将其向下压两档置于区域 III,从而在底片上保留阴影细节。

18%灰卡与反射式测光校准

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18%灰卡与反射式测光校准

为什么反射式测光表会将每次读数都还原为中间灰,灰卡如何确定基准曝光,以及18%与12.5%校准之间为何存在分歧。

入射测光与反射测光:以两种方式解读光线

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入射测光与反射测光:以两种方式解读光线

入射测光表与反射测光表如何以不同方式读取光线,各自擅长的场景,以及为什么入射读数能绕开中灰假设。